Uji Pengaruh ION Tembaga (Cu2+) dan Ion Kobalt (Co2+) Sebagai Ion Pengganggu dalam Penentuan Kadar ION Fe2+
| dc.Identifier.NIM | 21612027 | |
| dc.contributor.author | Samulo, Ilham | |
| dc.date.accessioned | 2025-09-22T03:33:47Z | |
| dc.date.available | 2025-09-22T03:33:47Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.description.abstract | Penentuan kadar besi (Fe) yang dilakukan dengan metode spektrofotometri UV-Vis yang melalui pembentukan kompleks Fe(II)-1,10-fenantrolin. Namun, ion logam lain seperti Cu2+ dan Co2+ dapat bertindak sebagai ion pengganggu. Penelitian ini bertujuan untuk mengkaji pengaruh ion Cu2+ serta campuran Cu2+ dan Co2+ terhadap analisis Fe(II). Hasil penentuan panjang gelombang menunjukkan maksimum masing-masing kompleks: Fe(II)-fenantrolin 510 nm, Cu(II)-fenantrolin 316 nm, dan Co(II)-fenantrolin 312 nm. Kurva kalibrasi Fe(II)-fenantrolin dengan reduktor NH2OH.HCl menghasilkan persamaan y = 0,0508x + 0,002 (r2 = 0,9983). Penambahan Cu2+ 1 ppm menurunkan absorbansi kompleks Fe(II), dengan % recovery 93,70 %, RSD 4,17 ppt, dan CV 0,417 %. Kurva kalibrasi Fe(II)- fenantrolin dengan reduktor reduktor Na2S2O3, menghasilkan kurva y = 0,0529x – 0,0147 (r2 = 0,9965). Uji lanjutan menggunakan campuran Cu2+ 1 ppm dan Co2+ 1 ppm, serta campuran ion pengganggu tersebut meningkatkan absorbansi Fe(II)- fenantrolin, dengan %recovery 122,84 %, RSD 3,72 ppt, dan CV 0,37 %. Hasil ini menunjukkan bahwa ion Cu2+ dan Co2+ secara bersama-sama dapat memberikan gangguan signifikan terhadap analisis Fe2+ dengan metode spektrofotometri UV- Vis. | en_US |
| dc.identifier.uri | repository.uii.ac.id/handle/123456789/57721 | |
| dc.publisher | Universitas Islam Indonesia | en_US |
| dc.subject | Ion Pengganggu | en_US |
| dc.subject | Tembaga (Cu) | en_US |
| dc.subject | Kobalt (Co) | en_US |
| dc.subject | Besi (Fe) | en_US |
| dc.subject | Spektrofotometri UV-Vis | en_US |
| dc.title | Uji Pengaruh ION Tembaga (Cu2+) dan Ion Kobalt (Co2+) Sebagai Ion Pengganggu dalam Penentuan Kadar ION Fe2+ | en_US |
| dc.type | Thesis | en_US |